測(cè)量次序

將直流電壓施加在試樣上,會(huì)改變其隨后測(cè)量的工頻 tan6的結(jié)果。

當(dāng)在同一試樣上相繼測(cè)量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時(shí),工頻下測(cè)量應(yīng)在對(duì)試樣施加直流電壓以前進(jìn)行。工頻試驗(yàn)后,應(yīng)將兩電極短路1min后再開始測(cè)量電阻率。

導(dǎo)致錯(cuò)誤結(jié)果的因素

雖然只有嚴(yán)重污染才會(huì)影響電容率。但微量的污染卻能強(qiáng)烈地影響 tan 和電阻率。

不可靠的結(jié)果通常是由于不適當(dāng)?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴尽⒂晌聪磧粼囼?yàn)池或吸收了水份, 特別是存在不溶解的水份所引起。

在貯藏期間長久暴露在強(qiáng)光線下會(huì)導(dǎo)致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運(yùn)輸以及試驗(yàn)池的結(jié)構(gòu)和凈化的標(biāo)準(zhǔn)化程序,可使由污染引起的誤差減至*小